掃描電鏡是一種使用電子束來高分辨率地成像樣品表面的儀器。其主要組成部分包括：

電子槍： 電子槍是掃描電鏡的核心部分，負責發射電子束。這個電子束通常由熱陰極發射電子，并通過電場聚焦形成細束。

樣品室： 樣品室是放置待觀察樣品的區域。樣品通常需要被制備成導電的狀態，以便電子束的引導和探測。

電子透鏡系統： 電子透鏡系統由一系列電磁透鏡組成，用于調整和聚焦電子束，以確保其能夠準確地掃描樣品表面。

掃描線圈： 掃描線圈用于控制電子束在樣品表面的移動。通過調整掃描線圈的電流，可以實現掃描電子束在樣品表面的不同區域，從而獲取整個圖像。

二次電子探測器： 二次電子探測器用于檢測樣品表面被電子束擊中后產生的二次電子。這些二次電子攜帶有關樣品表面的信息，用于生成圖像。

信號放大器和處理器： 二次電子信號被放大和處理，以產生圖像。這通常涉及到信號的轉換、放大和數字化。

顯示器和計算機： 掃描電鏡通過顯示器和計算機來顯示和處理圖像。這些設備使操作人員能夠實時觀察樣品表面的細節，并進行圖像分析。

這些組成部分共同作用，使得掃描電鏡能夠以高分辨率、高對比度地獲取樣品表面的圖像，廣泛應用于材料科學、生物學、醫學等領域的研究和分析。

ZEM20臺式掃描電鏡

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