在掃描電子顯微鏡（SEM）成像過(guò)程中，樣品表面的充電效應(yīng)可能會(huì)影響圖像質(zhì)量。充電效應(yīng)主要是由于電子束與樣品表面相互作用，導(dǎo)致電荷的累積。以下是一些方法，可幫助減輕或避免樣品表面的充電效應(yīng)：

導(dǎo)電涂層： 在進(jìn)行掃描電鏡成像前，可以在樣品表面涂覆一層導(dǎo)電性較好的薄層，如金屬或碳。這有助于提高電子的導(dǎo)電性，減少表面充電效應(yīng)。

樣品預(yù)處理： 在樣品進(jìn)行掃描電鏡成像前，進(jìn)行一些樣品的預(yù)處理步驟，例如金屬涂層、碳涂層或?qū)щ娡繉樱詼p輕充電效應(yīng)。

低電壓成像： 降低掃描電鏡的電子束加速電壓，可以減小電子束與樣品相互作用的強(qiáng)度，減輕充電效應(yīng)。但需要注意，較低的電壓可能降低圖像分辨率。

工作距離調(diào)整： 調(diào)整掃描電鏡的工作距離，即樣品到電子透鏡的距離，可以影響電子束的能量分布。通過(guò)適當(dāng)?shù)墓ぷ骶嚯x調(diào)整，可以減輕充電效應(yīng)。

電荷補(bǔ)償系統(tǒng)： 一些掃描電鏡設(shè)備配備了電荷補(bǔ)償系統(tǒng)，可以通過(guò)引入相反方向的電子流或離子束來(lái)抵消樣品表面的電荷，從而減輕充電效應(yīng)。

瞬時(shí)圖像： 通過(guò)在較短時(shí)間內(nèi)獲取圖像，可以減小電子束對(duì)樣品的影響，從而減輕充電效應(yīng)。

避免累積電荷： 盡可能減小電子束對(duì)樣品的曝光時(shí)間，以避免過(guò)長(zhǎng)的曝光時(shí)間導(dǎo)致電荷的累積。

ZEM20臺(tái)式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡成像如何避免樣品表面的充電效應(yīng)。更多掃描電鏡產(chǎn)品及價(jià)格請(qǐng)咨詢