掃描電鏡圖像質量差時，如何調節探針的聚焦？

在掃描電鏡（SEM）中，探針的聚焦對圖像的質量至關重要。若圖像質量差，可能是由于電子束的聚焦不正確或探針的參數設置不合適。

如何處理易揮發性樣品以適應掃描電鏡分析？

處理易揮發性樣品以適應掃描電鏡（SEM）分析是一個需要細致考慮樣品穩定性和電鏡操作條件的過程。

在掃描電鏡（SEM）觀察過程中，處理樣品中的水分和氣體是非常重要的，因為這些因素可能會導致圖像質量下降或損害樣品。

排除掃描電鏡（SEM）中的電源問題是確保儀器正常工作、提高圖像質量的重要步驟。

二維（2D）材料，例如過渡金屬二硫屬化物（TMDs），因其獨特的特性在下一代電子器件中展現出巨大的潛力。

掃描電鏡（SEM）出現過度加熱可能會對樣品、探測器、甚至設備本身造成損害，因此及時采取降溫措施是至關重要的。

掃描電鏡（SEM）圖像模糊可能由多種因素引起，如電子束聚焦不準、樣品表面不平、掃描參數設置不當等。

在掃描電鏡（SEM）中，工作距離（Working Distance, WD）和景深（Depth of Field, DOF）之間有著密切的關系。