掃描電鏡與透射電鏡的區別是什么
日期：2023-05-29
SEM（掃描電鏡）和TEM（透射電鏡）是兩種常用的電子顯微鏡技術，它們在工作原理、應用范圍和圖像獲取方式等方面存在明顯的區別。以下是SEM和TEM之間的主要區別：
工作原理：
SEM：掃描電鏡使用高能電子束掃描樣品表面，并通過檢測樣品表面反射、散射或發射的電子來生成圖像。SEM圖像是通過掃描樣品表面來獲取的，可以提供高分辨率的表面形貌信息。
TEM：透射電鏡使用電子束穿過樣品，樣品內部的不同區域對電子束的透射產生衍射和散射，然后通過檢測透射電子來生成圖像。TEM圖像是通過樣品內部的透射電子來獲取的，可以提供高分辨率的內部結構和晶體學信息。
分辨率：
SEM：SEM的分辨率一般在納米至亞納米級別，能夠觀察樣品表面的形貌和微觀結構。
TEM：TEM的分辨率通常在納米至次納米級別，能夠觀察樣品的原子級細節和晶體結構。
樣品制備：
SEM：SEM樣品制備相對簡單，樣品通常需要進行導電處理，如金屬涂覆或碳薄膜覆蓋。樣品可以是固態、液態或氣態。
TEM：TEM樣品制備相對復雜，通常需要將樣品制備成非常薄的截面，通常在幾十至幾百納米范圍內。樣品通常需要通過切片、研磨和薄片制備等技術。
應用范圍：
SEM：SEM廣泛應用于材料科學、生物學、納米技術、地質學等領域，用于觀察和分析樣品的表面形貌、微觀結構、成分分布等。
TEM：TEM主要應用于材料科學、生物學、納米技術等領域，用于觀察和分析樣品的晶體結構、原子級細節、界面和薄膜的形貌等。
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作者：澤攸科技