掃描電鏡（SEM）和透射電鏡（TEM）是兩種常用的電子顯微鏡技術，它們在工作原理、應用范圍和圖像獲取方式上存在顯著區別。

工作原理：

SEM：SEM利用高能電子束與樣品表面進行相互作用，產生二次電子、反射電子和散射電子等，通過檢測和記錄這些信號來獲取樣品表面的形貌和成分信息。

TEM：TEM通過將電子束穿過樣品，測量和記錄透射電子的強度和散射模式，從而獲得樣品的內部結構、晶體學信息以及元素成分的定量分析。

圖像獲取方式：

SEM：SEM通過掃描電子束在樣品表面的移動，逐點掃描樣品，并記錄從樣品表面反射或散射回來的電子信號，得到圖像。圖像可以呈現樣品的表面形貌、紋理和特征。

TEM：TEM通過將電子束透射樣品，通過透射電子的衍射或散射模式來獲得樣品內部的顯微圖像。這些圖像可以呈現樣品的晶體結構、界面和缺陷等細節信息。

應用范圍：

SEM：SEM廣泛應用于材料科學、納米技術、生物科學等領域。它適用于觀察和表征樣品表面形貌、微觀結構、紋理、顆粒分布等，并可進行元素成分分析。

TEM：TEM在材料科學、生物科學、納米科學等領域也有重要應用。它可以提供樣品的高分辨率的內部結構信息，如晶體結構、晶格畸變、原子排列等，并可用于納米材料的形貌和尺寸分析。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

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