掃描電鏡（SEM）中樣品的導電性對成像參數有重要影響。SEM成像原理涉及向樣品表面發射電子束，然后測量從樣品表面反射或散射回來的電子，從而生成圖像。導電性主要影響以下幾個方面：

電荷積累和放電：對于非導電樣品，當電子束照射表面時，電荷可能會在樣品表面積累。這種電荷積累可能會導致圖像中的偽影，例如輝光或充電環。導電性較差的樣品更容易積累電荷。為了避免這種問題，通常需要對非導電樣品進行導電性處理，如涂覆導電性薄膜。

電子逸出效率：導電樣品通常能夠更有效地將從電子源發射的電子束散射回到檢測器，從而獲得更強的信號。非導電樣品可能會導致信號較弱，需要更長的曝光時間，或者圖像質量較差。

分辨率：導電性樣品有助于獲得更高的分辨率，因為電子能更容易地穿透樣品并提供更詳細的信息。非導電樣品可能會限制分辨率，因為電子束與樣品相互作用較強。

因此，樣品的導電性在掃描電鏡成像中是一個重要因素。對于非導電樣品，通常需要采取措施來提高其導電性，以獲得更好的圖像質量和準確的分析結果。這可以通過涂覆導電性薄膜、金屬噴霧涂層、導電粘貼劑或碳涂層等方法來實現。

ZEM18臺式掃描電鏡

以上就是澤攸科技小編分享的掃描電鏡樣品的導電性對成像參數的影響。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢