掃描電子顯微鏡（SEM）適用于許多不同類型的樣品，包括但不限于以下幾種：

固體樣品：SEM可用于觀察和分析各種固體樣品，包括金屬、陶瓷、半導體、聚合物、納米材料等。它能夠提供高分辨率的表面形貌和結構信息，對樣品的形態、晶體結構、表面形貌等進行詳細分析。

生物樣品：雖然電子束會對生物樣品產生損傷，但通過適當的樣品制備和處理方法，SEM也可用于觀察和分析生物樣品，如細胞、細胞器、組織切片等。特別是在結合樣品的金屬鍍覆、冷凍切片等技術后，可以獲得高分辨率的生物樣品圖像。

納米材料：SEM對納米材料的觀察尤為重要，可以提供納米尺度下的表面形貌、顆粒大小分布、形貌特征等信息。通過適當的樣品處理和精細調節，SEM可以觀察到納米顆粒、納米線、納米管等納米結構的形態和分布。

無機和有機材料：SEM不僅適用于觀察無機材料，如金屬、陶瓷等，也適用于觀察有機材料，如聚合物、有機晶體等。通過SEM可以分析材料的微觀結構、表面形貌、晶體結構等特征。

表面涂層和涂料：SEM可以用于觀察和分析各種表面涂層和涂料的形貌、結構、厚度等特征，以評估其質量和性能。

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