在臺式掃描電鏡（SEM）中，樣品表面充電問題是一個常見的挑戰，可能會導致圖像質量下降、分析誤差等。充電問題通常在非導電樣品（如絕緣體）上更為明顯，因為電子束與樣品相互作用時會導致電子的積聚和充電現象。以下是一些解決臺式掃描電鏡樣品表面充電問題的方法：

導電涂層： 在樣品表面涂覆一層薄的導電涂層，如金屬薄膜或碳薄膜，可以有效地將電子束導入地面，減輕充電效應。

真空脫氣： 在SEM操作前，將非導電樣品放置在真空脫氣室中，利用真空環境去除表面的氣體分子，減少充電效應。

低電子束能量： 使用較低的電子束能量來照射樣品，這可以減少電子束與樣品相互作用，從而降低充電效應的影響。但需要注意，較低的電子束能量可能會導致圖像分辨率下降。

金屬導電膠： 將樣品固定在導電膠上，導電膠可以將電子束引導到地面，減輕充電效應。

樣品冷凍： 冷凍樣品可以減少樣品表面的電子排斥效應，從而減輕充電問題。這在一些特定情況下可能是一個有效的方法。

透射電鏡（TEM）觀察： 如果充電問題無法解決，可以考慮使用透射電鏡觀察樣品，因為在TEM中樣品通常被薄到足夠薄，以至于充電效應不太明顯。

低真空模式： 一些SEM設備提供低真空模式，可以在減少氣體分子密度的條件下進行成像，從而降低充電效應。

電子束抑制器： 一些SEM設備可能配備了電子束抑制器，可以通過引導電子束到樣品外部來減輕充電效應。

電子束預處理： 在開始成像之前，使用較低的電子束掃描樣品表面一段時間，這可以幫助消除部分表面充電效應。

環境SEM： 環境SEM操作在相對高氣壓下進行，可以減少充電問題的影響，特別是對于水分等吸附在樣品表面的情況。

ZEM15臺式掃描電子顯微鏡

以上就是澤攸科技小編分享的如何解決臺式掃描電鏡中的樣品表面充電問題。更多掃描電鏡產品及價格請咨詢