掃描電鏡在非導電樣品觀察中的處理方法有哪些
日期：2023-12-08
在掃描電子顯微鏡（SEM）中，非導電樣品通常會導致電荷堆積和圖像模糊，因為電子束與樣品相互作用導致電子的發射和堆積。為了在SEM中有效地觀察非導電樣品，有一些處理方法：
導電涂層：
一種常見的方法是在非導電樣品表面涂覆一層導電性材料，如金屬（例如金、鉑）或碳。這樣可以形成一個導電層，有助于消除電荷堆積，并提高電子信號的導電性能。這種導電涂層的方法稱為金屬涂層或碳涂層。
金屬涂層（Sputter Coating）：
利用濺射鍍金屬的方法，將金屬顆粒沉積在樣品表面，形成導電層。這一過程通常稱為金屬涂層或濺射鍍金屬。
碳涂層（Carbon Coating）：
使用碳的蒸發或噴霧沉積的方法，將薄層的碳涂覆在樣品表面。這種方法稱為碳涂層。
金屬導電粘貼劑：
在樣品表面使用導電性粘貼劑，如導電膠，以提高電導性。
減小電子束能量：
減小電子束的能量，以減小與樣品相互作用導致的電荷堆積。這可能會降低分辨率，但有助于避免過多的電子散射。
低真空模式：
在低真空模式下進行觀察，減小氣體分子與電子的碰撞，有助于減小電荷堆積的影響。
樣品冷凍：
冷凍樣品可以減緩電子與樣品相互作用，減小電荷堆積的影響。這種方法通常在冷凍樣品觀察中使用。
樣品預處理：
對樣品進行預處理，如濺射清潔、等離子體清洗等，可以改善樣品的導電性能。
在選擇處理方法時，需要考慮樣品的性質、觀察的目的以及所需的分辨率等因素。不同的樣品可能需要不同的處理方法，而一些方法可能更適用于特定類型的非導電樣品。
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作者：澤攸科技